测试AMOLED屏幕主要涉及以下几种方法:
利用TEG量测机台进行测试
使用具有4个独立探针的TEG量测机台对AMOLED的nTmC结构的像素测试电路进行量测。
通过分成补偿步骤、缓冲步骤、发光步骤等多个阶段地进行量测,能够无需另外配置探针,也无需选购配置有足够多的独立探针的量测机台,即能够对像素测试电路进行量测,从而能够实现一般的TEG量测机台的通用性,节约用于测试的配套设备成本。
测试AMOLED面板模组阻抗
驱动面板模组分别显示三个不同亮度的单色画面。
获取面板模组在三个不同亮度单色画面下的亮度和电流。
获取面板模组在三个不同亮度单色画面下的驱动晶体管的栅源偏压。
根据三组的亮度、电流和驱动晶体管的栅源偏压,基于驱动晶体管电压和电流的关系式以及有机电致发光器件的电流和亮度的关系式,计算得到面板模组的阻抗。
显示效果测试
通过实际拍摄AMOLED屏幕的图片,评价其显示效果,包括色彩、色阶、渐进色和灰阶测试等。
薄膜晶体管测试
对AMOLED屏幕中的薄膜晶体管进行测试,确保其正常工作,包括栅极、漏极和源极的连接情况以及使能信号的电位互反等。
亮度测试
在测试亮度时,需要注意使用不同的方法可能会对结果产生明显影响,因此需要选择合适的方法进行测试。
这些方法可以帮助全面评估AMOLED屏幕的性能和显示效果。根据具体需求和测试条件,可以选择合适的方法进行测试。
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